在工业中的危害：静电的产生在工业生产中是不可避免的，其造成的危害主要可归结为以下两种机理：
1、静电放电(ESD)造成的危害：引起电子设备的故障或误动作，造成电磁干扰。
2、击穿集成电路和精密的电子元件，或者促使元件老化，降低生产成品率。
3、高压静电放电造成电击，危及人身安全。
4、在多易燃易爆品或粉尘、油雾的生产场所极易引起爆炸和火灾。
5、静电引力(ESA)造成的危害：电子工业：吸附灰尘，造成集成电路和半导体元件的污染，大大降低成品率。
6、静电对LED灯珠的危害，因瞬间的电场或电流产生的热，使LED灯珠局部受伤，表现为漏电流迅速增加，仍能工作，但亮度降低(白光将会变色)，寿命受损。
7、因电场或电流损坏LED灯珠的绝缘层，导致LED灯珠出现损坏，无法工作，主要表现为死灯。
静电测试方法：
般情况下，静电测试分为两种方式，一种为接触静电测试，另-一种是非接触静电测试，通常电子元器件的接触防静电电压值要低于非接触防静电电压值。工业防静电标准:接触防静电电压6kV,非接触防静电电压8kV.
静电测试前的准备工作: 连接好准备测试的设备，确保测试前的设备是正常运行的。
连接好静电放电测试仪，确保测试仪的地线与设备的地线相互连接，形成放电回路。
接触式静电
测试项目包括设备机箱外壳，电源接口，控制接口，以及通讯接口等。
测试电压标准，测试静电电压从2kV开始增加，每次增加2kV，直到20kV为止，即测试静电电压分别为2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV。测试频率标准，测试放电分为两种频率，但放电次数均为10次。一种频率是1秒钟放电1次，连续放电10次，为低频静电放电测试;另-种频率是0.1秒钟放电1次，连续放电10次，为高频静电放电测试。测试通过标准，硬件无任何损坏，通讯正常，数据无错误，丢失等情况。测试停止标准，在测试某一项目时，如果硬件发生损坏，通讯异常或其他任何不正常的情况，测试将不向更高标准进行，而只统计当前测试结果。测试转为下一项。为提高测试精度，也可以在测试设备出现异常情况时，先调低静电电压1kV进行测试，如果测试通过,则调高静电电压0.5kV进行测试，如果测试不通过，则继续调低静电电压0.5kV进行测试，依次类推，调节幅度不断减小为0.25kV, 0.125 kV等，直到精度达到要求为止，统计临界静电电压测试结果，
测试顺序标准，测试顺序为先确定电压，再确定频率。电压由低到高，频率由慢到快。即依次为2kV低频测试，2kV高频测试，4kV低频测试，4kV高频测试，直到20kV低频测试，20kV高频测试。在提高精度测试过程中也同样遵循先确定电压，再确定频率这一原则测试数据标准，测试某一项目时，在某一电压和频率下，如果连续20次测试通过，即判定在当前状态下，系统工作正常:否则统计连续20次测试过程中出错的次数，计算出错的概率，填入测试数据报表中。测试方法标准，先将静电枪对准被测试项目(如:机箱，各个接口)，移动静电枪至被测试项目的表面，要求静电枪与被测试项目的表面保持垂直且接触，扣动静电枪扳机，待10次放电全部结束后，松开静电枪扳机，将静电枪从被测试项目表面移开，准备下一次测
非接触式静电：
测试项目包括设备机箱外壳，电源接口，控制接口，以及通讯接口等。
测试电压标准，测试静电电压从2kV开始增加，每次增加2kV,直到20kV为止，即测试静电电压分别为2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV.测试通过标准，硬件无任何损坏，通讯正常，数据无错误，丢失等情况。
测试停止标准，在测试某一项目时，如果硬件发生损坏，通讯异常或其他任何不正常的情况，测试将不向更高标准进行，而只统计当前测试结果。测试转为下一项。为提高测试精度，也可以在测试设备出现异常情况时，先调低静电电压1kV进行测试，如果测试通过，则调高静电电压0.5kV进行测试，如果测试不通过，则继续调低静电电压0.5kV进行测试，依次类推，调节幅度不断减小为0.25kV, 0.125 kV等，直到精度达到要求为止。
测试顺序标准，测试顺序为电压由低到高。即依次为2kV测试，4kV测试,6kV测试，直到20kV测试。测试数据标准，测试某--项目时， 在某--电压下，如果连续20次测试通过，即判定在当前状态下，系统工作正常;否则统计连续20次测试过程中出错的次数，计算出错的概率，填入测试数据报表中。测试方法标准，先将静电枪对准被测试项目(如:机箱，各个接口)且相隔5厘米以上，扣动静电枪扳机，移动静电枪靠近被测试项目的表面，移动过程中要求静电枪与被测试项目的表面保持垂直，待空气放电结束后，将静电枪从被测试项目表面移开，松开静电枪扳机，准备下一次测试。
注意:1.测试过程中，某元器件测试结果会因为元器件个体差异而有所不同，如保险，二极管等，这就需要对不同的元器件进行多次测量，求出所有元器件测试结果的平均值作为最终的测试结果。
测试过程中，一般情况下，不能直接对芯片进行静电放电。如有特殊需要，一定要对某芯片进行静电放电测试时，应尽量减小每次静电增加的幅度，这样可以更好的测试出防静电电压真实值的接近值，使测试更加准确。
测试过程中，为保障测试结果的准确性，每次静电放电结束后到下次静电放电开始前的时间间隔不能太小，要留给系统足够的恢复时间，即要留够系统电荷释放的时间，时间间隔一般为10秒钟。待系统电荷充分释放后,才能进行下一次测试。
参考标准：
☆电子产品防静电放电控制手册GJB/Z105-98☆电子工业用合成纤维防静电绸性能及试验方法SJ/T11090-1996☆防静电鞋、导电鞋技术要求GB4385—1995☆电子产品制造防静电系统测试方法SJ/T10694-96☆ 电子元器件防静电要求QJ1693-89☆防静电操作系统技术要求QJ1950-90☆ 防静电安全工作台技术要求QJ2177-91☆ 静电测试方法QJ1875-90☆ 防静电操作系统通用规范QJ2846-96☆ 电子元器件制造防静电技术要求SJ/T10630-95☆ 电子设备制造防静电技术要求SJ/T10533-94☆ 《静电敏感器件使用规则》宣贯材料Q/W293-92-2☆ 电子计算机机房施工及验收规范SJ/T30003-93☆ 通讯设备静电防护通则YD/T754-1995☆ 静电敏感器件使用规则Q/W293-92☆ 电子仪器和设备静电要求QJ2245-92☆ 半导体器件使用规则QJ2225-92☆ 集成电路防静电包装管SJ/T10147-91☆ 通信机房静电防护通则YD/T754-95☆ 信息技术设备静电放电敏感度试验SJ20154-92☆ 电火工品生产防静电安全规程WJ1912-90☆ 防静电周转容器通用规范SJ/T11277-2002☆ 防静电活动地板通用规范SJ/T10796-2001☆ 防静电贴面板通用规范SJ/T11236-2001☆ 地板覆盖层和装配地板静电性能的试验方法SJ/T11159-98
最新认证培训参考标准
国际标准 IEC61340-5-1:2007
美国标准ANSI/ESDS20.20-2007
中国标准GJB3007-2009
行业标准SJ/T10694-2006(中国行业标准FLOMCESD 标准)
就认证标准而言，目前欧美流行的ESD体系有IEC、EIA、ESDA以及IPC四大类，其中IPC的ESD标准实际上是ESDA和EIA标准的引用，所以严格意义上流行的体系是三类。 |
